English

Merilna tehnika (specialna področja), razvoj merilne instrumentacije in preskusnih naprav

Visokošolski učitelji:
Sodelavci:



Opis predmeta

Namen predmeta je slušatelje seznaniti s problematiko testiranja elektronskih vezij. V uvodu bo najprej podana osnova terminologija, ki se uporablja pri testiranju vezij. Sledi modeliranje napak ter opis postopkov za odkrivanje napa?nega delovanja vezja. Osredoto?ili se bomo na simulacijo napak in na generacijo testnih vzorcev.
V drugem delu predavanj bomo predstavili funkcijsko testiranje kompleksnejših sistemov in pokazali postopke za testiranje mikroprocesorskih vezij. Pokazali bomo tudi metode na?rtovanja vezij z upoštevanjem testiranja (JTAG, obrobno testiranje) vezja ter na?ine za vgrajeno samotestiranje vezja. Snov bomo zaokrožili s postopki diagnoze na nivoji vezja in na sistemskem nivoju.
V okviru prakti?nega dela v laboratoriju bodo slušatelji obogatili znanje pridobljeno v toku predavanj na primeru dejansko na?rtanega vezja. Vezje bodo najprej opisali na funkcijskem nivoju (C, C++, Java) ter v postopku simulacije preverili pravilnost delovanja. Sledi opis v jeziku za opis vezja (Verilog, VHDL) ter postopki logi?ne sinteze, tehnološke preslikave, izdelave vezja ter testiranja izdelanega vezja.



Študijske smeri:



Gradiva

http://lmk.fe.uni-lj.si/kakovost/predmetnik_3.html?Merilna







natisni stran