English

Visokošolski učitelji: Žemva Andrej
Sodelavci: Olenšek Jernej



Opis predmeta

Pogoji za vključitev v delo oz. za opravljanje študijskih obveznosti:

  • Vpis v letnik.

Vsebina:

Unipolarni tranzistor (FET) in osnovne ojačevalne stopnje. Bipolarni tranzistor (BJT) in osnovne ojačevalne stopnje. Enosmerna analiza za določitev delovne točke, malosignalna analiza za izračun prenosne funkcije vezja. Frekvenčna odvisnost. Prenosna funkcija in Bodejevi diagrami. Frekvenčni odziv FET in BT. Tokovna zrcala in aktivna bremena. Tokovna zrcala s FET in BT. Aktivna bremena s FET in BT. Diferencialni in večstopenjski ojačevalniki. Diferencialna stopnja: osnovni princip delovanja, model DC in AC, protifazno in sofazno krmiljenje, CMRR z BT, MOSFET in JFET. Preprosta izvedba operacijskega ojačevalnika z diferencialnim BT in izhodno stopnjo. Povratne vezave (PV). Koncept PV, prednosti in slabosti PV. Analiza vezij s PV, vpliv PV na ojačanje in frekvenčni pas. Osnovne topologije PV. Praktični primeri vezij s PV. PV in stabilnost. Nyquistov kriterij stabilnosti, amplitudna in fazna meja. Principi frekvenčne kompenzacije. Primeri uporabe: ojačevalnik FET s PV.

Cilji in kompetence:

Predmet podaja temeljna znanja s področja linearne elektronike in obravnava osnovne ojačevalne stopnje, njihovo analizo in modeliranje, frekvenčno odvisnost, povratne vezave in stabilnost vezij. Pridobljena znanja so osnova za vse nadaljnje predmete s področja analognih in analogno-digitalnih elektronskih vezij.

Predvideni študijski rezultati:

Študent bo osvojil analizo elektronskih vezij in spoznal temeljne principe linearne elektronike. Osvojil bo znanja s področja eno in večstopenjskih ojačevalnikov, frekvenčne odvisnosti, povratnih vezav in njihovega vpliva na stabilnost.

Metode poučevanja in učenja:

  • Predavanja, avditorne in laboratorijske vaje za utrditev teoretičnih osnov.





Gradiva

  1. Donald A. Neamen, Microelectronics: Circuit Analysis and Design, 4th Edition, McGraw-Hill, 2011.
  2. A. Žemva: Elektronika I – Gradivo za laboratorijske vaje, 2012.







natisni stran